Contamination control in trace element analysis / Morris Zief, James W. Mitchell.
Detalhes da publicação: New York : Wiley, c1976Notas: xiv, 262 p. : ill. ; 24 cmISBN: 0471611697Assunto(s): Trace elements -- Analysis | Análise química | Contamination (Technology)Classificação Decimal de Dewey: 545 Classificação da LoC: QD139.T7 | Z5| Tipo de material | Biblioteca atual | Setor | Classificação | Situação | Previsão de devolução | Código de barras |
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Livro
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Biblioteca INPA | Obras gerais | 545 Z65 (Percorrer estante(Abre abaixo)) | Disponível | 84-0823 |
"A Wiley-Interscience publication."
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